XRF-3050镀层测厚仪
XRF - 3050光谱仪：适用于异形件成分与厚度分析，具备多项先进技术助力质量管控
XRF - 3050光谱仪,异形件检测,成分分析,厚度分析,无损变焦, EFP算法,质量管控,涂镀层分析,准直器,微光聚集技术
XRF - 3050光谱仪专为检测异形件而生，可用于五金模具、卫浴产品等表面处理成分和厚度分析。它搭载微聚焦X射线发生器等，有无损变焦检测技术，核心EFP算法能快速分析多层多元素。可同时分析5个镀层、10种元素，软件人性化，准直器可选，测距光斑扩散度小，广泛用于产品质量管控等。
